用单个摄像机在指定平面上测量尺寸
在HALCON中，很容易从图像中获得世界坐标下的非变形测量。一般来说，如果同一物体同时在不同的空间位置被相机拍摄，这样的测量任务就可以完成。这就是所谓的立体视觉方法。
在工业检测中，我们通常只有一个可用的摄像机，时间限制不允许我们使用像在立体图像中找到对应点这样昂贵的处理(所谓的立体匹配处理)。
然而，可以获得通过远心透镜获得的物体和位于已知平面中的物体在世界坐标系中的测量值。例如，对于针孔摄像机，在一条缝线上。光和平面的相互作用可以很好地解决这两个任务。
这样，即使当平面相对于光轴倾斜时，也可以在平面中测量物体。唯一的前提是摄像机已经校准。在HALCON中，校准过程很容易。
执行校准的最简单方法是使用HALCON标准版。您只需要擦拭校准板的一些图像(如图1所示)，在这里，在图像上，校准板已经直接放置在测量平面上。
图1:哈尔孔校准板
第一个例子
以下程序显示了如何校准相机，并使用校准结果将测量转换为3D世界坐标。
首先，我们制定校准的一般参数。
然后，读取校准板的图像。在操作者find_calib_object的帮助下，搜索标定板，提取标记点的轮廓和中心，并估计标定板的姿态。获取的信息存储在校准的数据模型中。
现在，我们使用操作员calibrate_camera来执行实际校准。
然后，我们可以访问校准结果，如相机内部参考和校准板在参考图像下的位置和姿态。
姿态用作相机的外部参数，例如相机坐标中的3D世界坐标系的姿态。在这个例子中，世界坐标系位于标尺上(见图2)。为了抵消校准板的厚度，姿势会移动相应的值。
现在，我们已经完成了测量。因此，通过校准板，我们在不覆盖标尺的情况下获得了额外的图像：
借助于摄像机的内部和外部参数，操作者可以将测量结果转换为三维世界坐标。
图2:校准后，测量标尺上的标记点，借助校准结果，将测量转换为3D世界坐标。