资源限制时间限制： 1.0s内存限制： 512.0MB
已知问题的描述有n(2n20 )个芯片，有好芯片和坏芯片，好芯片比坏芯片多。
每个芯片都可以用于测试其他芯片。 用好的芯片测试其他芯片时，可以正确给出被测试芯片是好是坏。 另一方面，用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好与坏的测试结果。 也就是说，这个结果与被测试芯片的实际好坏无关。
给出所有芯片的测试结果，问哪个芯片好。
格式输入数据的第一行是整数n，表示芯片的数量。
从第2行至第n 1行为n*n的表，每行有n个数据。 表中的各数据为0或1，该n行中的第I行j列(1I，jn )的数据表示在第I个芯片上测试第j个芯片时得到的测试结果，1为好，0为差，i=j时一般为1 (表1 ) 不能测试芯片本身)。
输出格式按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样本输入3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样本输出1 3
Code Java源代码：我的想法是，分别计数二维数组的下标，如果大于输入的n就表示芯片好，否则就表示不好。
import java.util.Scanner； /*思想：主题中好芯片是额外差的芯片，所以好芯片的两倍大于芯片总数n； * b序列表示与下标一致的芯片编号测试为1 (好)个； */public class main { publicstaticvoidmain (字符串[ ] args ) scannerscanner=newscanner ) system.in )； int n； n=scanner.nextInt (； int[][] a=new int[n 1][n 1]； int[] b=new int[n 1]； //b数组下的标签表示芯片编号，与下标签对应的数组值测试该芯片编号即可(1)、不好(0) ) for ) intI=1； i=n； I ) for(intj=1； j=n； j({a[I][j]=Scanner.nextint )； if(a ) I ) j )==1) ) b ) j；//给出了在第I个芯片上测试第j个芯片时得到的测试结果，1为好，0为差，}}for(intj=1； j=n； j ) if(2*b[j]nj==1) (/j ) 1表示第一个好芯片，与下一个好芯片之间用空格隔开。 已知好芯片多于坏芯片，因此测试结果为1 )好)芯片的数值的两倍应该大于芯片总数nsystem.out.print(j ) }elseif(2*b[j]nj！=1) system.out.print(''j )； }}}}