基础练习芯片测试
时间限制： 1.0s内存限制： 512.0MB
已知问题的描述有n(2n20 )个芯片，有好芯片和坏芯片，好芯片比坏芯片多。
每个芯片都可以用于测试其他芯片。 用好的芯片测试其他芯片时，可以正确给出被测试芯片是好是坏。 另一方面，用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好与坏的测试结果。 也就是说，这个结果与被测试芯片的实际好坏无关。
给出所有芯片的测试结果，问哪个芯片好。 格式输入数据的第一行是整数n，表示芯片的数量。
从第2行至第n 1行为n*n的表，每行有n个数据。 表中的各数据为0或1，该n行中的第I行j列(1I，jn )的数据表示在第I个芯片上测试第j个芯片时得到的测试结果，1为好，0为差，i=j时一般为1 (表1 ) 不能测试芯片本身)。 输出格式按照从小到大的顺序输出所有良好芯片的编号样本输入3
1 0 1
0 1 0
111样本输出1 3
package com.quz._01_基础练习； import java.util.Random； import java.util.Scanner； 公共类_ 23 _芯片测试{公共静态int n； publicstaticvoidmain (string [ ] args ) scanner InP=new scanner (system.in )； n=inp.nextInt (； int[][] arr=new int[n 1][n 1]； for(intI=1； i n 1； I ) scannerinpstr=new scanner (system.in )； string [ ] strings=in pstr.nextline ().split ) ')； for(intj=1； j n 1； j ({ arr [ I ] [ j ]=integer.parseint (strings [ j-1 ] )； }}int[] arr1=new int[n 1]； for(intI=1； i n 1； I ) for(intj=1； j n 1； j({arr1[I]=arr[j][I]； }arr1[I]----； }for(intI=1； i arr1.length； I ) if(ARR1[I]=n/2 ) system.out.print(I ' )； }}}}