以前从STM32切换到华大单片机时，在adc阻抗问题上踩过孔； 我最近测试瑞萨单板机的时候，忘了阻抗的计算方法。 所以写笔记记录下来。
ADC采样时的等效电路(来自STM32手册)一般单片机内部的ADC均为SAR型，主要分为采样和转换两个步骤。 采样时，内部采样电容充电，阻抗包括ADC内部的等效电阻和信号源的输出阻抗。
这是标准的RC充电电路，电容器c上的电压如下。
在固定采样时间t之后，电容器c和源极信号之间的电压误差如下。
从等式可以看出，电压误差与源极信号的幅度有关，并且源极信号越大，电压误差越大。 源极信号与基准电压相同时，电压误差最大。
为了得到正确的ADC转换结果，采样的电压误差必须小于1/2 LSB。
由该式可知，信号源的最大输出阻抗与单片机的特性(采样电容、等效电阻、分辨率)有关，也与可配置的采样时间有关。 因为单片机的特性不能改变，只能从采样时间着手，可以降低ADC的工作频率，增大ADC的采样周期。
附上当前使用的几个MCU的阻抗计算结果。
MCU型号adc_clk
(MHz )采样周期数采样时间
(us )单片机模态信号源的最大输出阻抗
(k )采样保持电容
(pF )采样等效内阻
(k )分辨率nstm 32 f 07014239.517.107142868112236.3114439华大F170612219.21.51210.06005642瑞萨ra2e 1482555.312591.91263 .
用STM32微控制器获得最佳ADC精度的方法