一.注意事项
1 .硬盘测试前，应检查硬盘外观有无物理损伤，注意观察细节，电路板、电子元器件、磁盘体表面无明显破损、裂纹、倾倒痕迹； 如有损伤，请立即向发货人和相关负责人在接收现场确认原因
2 .测试机器使用的电源，应确认电源充足，数据线和接头良好，注意测试机器的CPU温度保持正常，测试硬盘时应控制硬盘温度否则，长时间硬盘温升会导致测试结果不准确；
3 .硬盘通电高速运行时，抗冲击能力较弱，基本上30g冲击力能对磁盘造成物理损伤； 硬盘电机损坏，测试时请注意硬盘的固定，避免磕碰；
4 .如果发现连续检测不到两个或更多磁盘，请立即停止测试、更换设备或与供应商联系，很可能是测试电源或数据线等设备有问题； 在这种情况下继续测试可能会导致磁盘大量损坏。
5 .请注意另一种情况； 如果接头可能有问题，请从电缆上拔下接头，而不是从硬盘上拔下连接电缆的接头。
*此方法适用于SAS和/或SISC硬盘。
二.环境要求
1 .硬件要求：台以上硬盘，数据线一条，保证硬盘散热
2 .软件要求：系统WINDOWS2003/XP硬盘测试软件，EZ-SISC5.0或6.0，HDspeed，HDtach，HDDScan_v28，
3 .测试过程
硬盘通电时间测试
1 .设置磁盘哨兵(HardDiskSentinel-h )
2 .点击磁盘，选择S.M.A.R.T硬盘.(自我监测、分析、报告技术)，在图下测试当前硬盘通电时间为18分钟
硬盘生长不良测试
安装并重新启动EZSCSI软件。 此软件仅支持在Winxp上测试硬盘
2 .开始——打开――Adaptec EZ-SCSI 5.0程序SCSI资源管理器
3 .单击3.interrogator选项卡- -要测试的硬盘――Defect list选项卡- -单选Grown Defect List―进行选择
4 .其中，ID#0:FUJITSU (代表第一组频道的第一个盘)是看到成长的邪路，如果没有成长，则表示为No Grown Defects
下图显示硬盘有一条成长的邪路
*如果硬盘读/写缓存未打开，请将其打开。 如果没有打开，会严重影响速度。 如果打不开，请委托供应商更换。
硬盘寻道测试
使用HDTACH测试盘的查找时间
2 .请注意，下图是10K富士通MAT 147G SCSI的标准测试图，随机访问速度为7.7毫秒
3 .请注意，下图是15K富士通MAX36G SCSI的标准测试图，随机访问速度为5.6毫秒。
*无盘服务器APP意味着寻道速度远远快于连续读取速度，因此为了获得更好的效果，建议使用15k SCSI或SAS磁盘作为回写磁盘。 这就是为什么不建议使用SATA磁盘作为回写磁盘的原因，因为SATAHDD寻道时间可长达14毫秒或更长。
硬盘速度测试
使用Hdspeed测试磁盘读取速度
2 .测试硬盘刻录速度提示输入格式(destroy data )