1 .众所周知，主题是n(2n20 )芯片，有好芯片和坏芯片，好芯片比坏芯片多。
每个芯片都可以用于测试其他芯片。 用好的芯片测试其他芯片时，可以正确给出被测试芯片是好是坏。 另一方面，用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好与坏的测试结果。 也就是说，这个结果与被测试芯片的实际好坏无关。
给出所有芯片的测试结果，问哪个芯片好。
输入
输入数据的第一行是整数n，表示芯片的数量。
从第2行至第n 1行为n*n的表，每行有n个数据。 表中的各数据为0或1，该n行中的第I行j列(1I，jn )的数据表示在第I个芯片上测试第j个芯片时得到的测试结果，1为好，0为差，i=j时一般为1 (表1 ) 不能测试芯片本身)。
输出功率
按从小到大的顺序输出所有好芯片的号码
样本输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样本输出
1 3
2 .第一次写创意时，“用坏芯片测试其他芯片时，随机给出好与坏的测试结果。 也就是说，该结果与被测试芯片的实际好坏无关。 ”因为看不到这句关键话，所以不能用坏芯片测试好芯片。 我觉得写代码还很简单。 测试也不能只通过最后的情况。 代码如下。 想法参照评论，那个词是“坏芯片测试所有芯片是0”
当用publicstaticvoidtest (int [ ] [ ] arr )//好的芯片测试其他芯片时，可以正确给出被测试芯片是好是坏。 //，用坏芯片测试其他芯片时，随机有好有坏的测试结果为for(intI=0； i arr.length； I ) for(intj=0； j arr.length； j ) if(I==j ) ) {continue； (if ) arr[I][j]==0)/I测试j，然后立即进行j测试IIF(arr[j][I]==0) /此时表示第j行为不良芯片//j行全部为-1for k({ARR[j][k]=-1； }}}}}//最后，遍历整个二维数组。 如果该行中有1，则即使它是好的芯片for (inti=0)； i arr.length； I ) for(intj=0； j arr.length； j ) if(I==j ) ) {continue； }elseif(ARR[I][j]==1) system.out.print ) I1 ' )； //i 1表示I是行数，输出的是第几个break； } }正确的解法：
当用publicstaticvoidtest (int [ ] [ ] arr )//好的芯片测试其他芯片时，可以正确给出被测试芯片是好是坏。 //用坏芯片测试其他芯片时，随机输出好坏测试结果的int record_1=0； //记录各行为0和1的个数的int record_0=0； for(intI=0； i arr.length； I ) for(intj=0； j arr.length； j ) (/好芯片互测一定是好芯片，但坏芯片互测情况if(I==j ) ) {continue； (if ) arr[I][j]==1arr[j][I]==1) ) /排除不良芯片相互测试的情况//此时，暂时判断I是好芯片，然后比较以下1和0的数量(/好k () if ) arr[I][k]==1) {record_1； }elseif(arr[I][k]==0) {record_0； }if(record_1record_0) system.out.print(I1 ' )； for(intn=0； n arr.length； n ) if(I==n ) {continue； (if ) arr[I][n]==0) (/n行表示不良芯片，此时，将测得的不良芯片全部保持为0，绝对患者for(intc=0； c arr.length； c () arr(n ) ) c )=0； }}}break； (else(/0小于1时，必须输入坏芯片for(inth=0； h arr.length； h () {arr[i][h]=0； }}} }record_1=0； 记得重新记录record_0=0； //还有点复杂，我从行出发，看网上的另一种解法，从列表里拿出来，先看所有芯片测试它的结果很简单
链接：链接
代码如下。 ((搬运) )。
import java.util.Scanner； 公共类主(publicstaticvoidmain (字符串[ ] args )扫描仪扫描=新扫描仪)系统. in )； int n=scanf.nextInt (； //芯片个数int[][] arr=new int[n][n]； for(intI=0； i n； I ()//输入芯片整体测试结果的for(intj=0； j n； j({ARR[I][j]=Scanf.nextint )； }}int temp=0； for(intj=0； j n； j ()//在循环中找到第一个好芯片int true=0int false=0； for(intI=0； i n； I ) if(I==j ) continue； elseif(arr[I][j]==0) False； elseTrue； (if ) true=false ) )//所有芯片对给定芯片的测试比对结果temp=j； 布雷克； }for(intI=0； i n； I ) (/以格式输出在该好芯片上获得的测试结果(arr[temp][I]==1) system.out.print ) I1 ' )； } }