电子元器件的发展史其实是一部浓缩的电子发展史。 电子技术是19世纪末、20世纪初开始发展的新兴技术，在20世纪发展最为迅速、应用最为广泛，成为近代科学技术发展的重要标志。
社会发展的需要，电子装置越来越复杂，电子装置要求可靠性、速度快、功耗小、重量轻、小型化、成本低等特点。 20世纪50年代提出集成电路的构想后，由于材料技术、器件技术和电路设计等综合技术的进步，20世纪60年代成功开发了第一代集成电路。 在半导体发展史上。 集成电路的出现具有划时代的意义：它的诞生和发展推动了铜芯技术和计算机的进步，使科学研究的各个领域和工业社会的结构发生了历史性的变革。 由优秀的科学技术发明的集成电路给研究者带来了更先进的工具，也产生了更多更先进的技术。 这些先进的技术推动了更高性能、更便宜的集成电路的出现。 对电子器件来说，体积越小，集成度越高； 响应时间越短，计算处理的速度越快。 传输频率越高，传输的信息量就越大。 半导体工业和半导体技术被称为现代工业的基础，同时已经发展成为比较独立的高科技产业。 特别是需要能够进行电子部件自动测试的系统。
NSAT-2000电子元器件自动测试系统的特点：
系统可以实现对FPFA/DSP芯片、电磁继电器、电容器、电源模块等环境压力的高速瞬时测试。
可进行电源、LCR数字桥、绝缘耐压测试器、电子负载、示波器、逻辑分析仪、数据集电极等测试设备的并联控制。
所有设备的连接都可以通过硬件安装画面中的自动检测功能实现，支持设备更换品牌模型的兼容性。
在进行环境压力测试和被检测产品的参数测试之前，用户只需要设定仪器设备的参数，就可以进入自动化测试。
测试系统满足不同的产品，在环境胁迫实验的同时进行多种参数的测试。
系统满足在线测试要求，提供多功能的对象匹配模块，用被测产品可固定、外部可连接的高频耐高温镀银电缆实现实时测试，对象匹配模块与不同的被测产品类型兼容。
对于FPGA的最多256针测试，系统采用针测试模块和对象匹配模块方式完成。 芯片256号引脚可以与周边的引脚测试模块连接，并行测试结束后，用户可以将引脚测试模块的连接代码更换为下一个测试的引脚，通过这样依次执行，可以完成256号引脚测试。
不仅系统运行时间长，还可以确保数据的准确性和稳定性。
提供用户自定义报告模板的功能，使报告多样化和灵活。
NSAT-2000电子元器件自动测试系统的使用流程：