已知问题的描述有n(2n20 )个芯片，有好芯片和坏芯片，好芯片比坏芯片多。
每个芯片都可以用于测试其他芯片。 用好的芯片测试其他芯片时，可以正确给出被测试芯片是好是坏。 另一方面，用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好与坏的测试结果。 也就是说，这个结果与被测试芯片的实际好坏无关。
给出所有芯片的测试结果，问哪个芯片好。
格式输入数据的第一行是整数n，表示芯片的数量。
从第2行至第n 1行为n*n的表，每行有n个数据。 表中的各数据为0或1，该n行中的第I行j列(1I，jn )的数据表示在第I个芯片上测试第j个芯片时得到的测试结果，1为好，0为差，i=j时一般为1 (表1 ) 不能测试芯片本身)。
输出格式按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
代码# include bits/stdc.husingnamespacestd； int x[25][25]； int main () { int n； cinn； int y[25]； for(intI=0； i25； I ) y[i]=1； for(intI=0； in； I ) for(intj=0； jn； j ) cinx[i][j]； for(intI=0； in； I ) { int f=1； for(intj=0； jn； j () if ) x[I][j]==1I！=j () f=0； if(x[j][I]！=1) { y[i]=0； 布雷克； }}if(f==1) y (I )=0； }for(intI=0； in； I () if ) y[I]==1) couti 1' )； }返回0； }