产品需要姿势传感器，使用的是MPU9250。 主要是找不到太多算法库。 自己写是不可能的。 欧拉角，四要素计算反正也不知道，想快点，一步一步地前进。
硬件工程师使用了IIC接口。
1 .首次调试使用了官方提供的mpl例程，移植后俯仰和滚动均正常，主要是YAW方位。 每次重新启动芯片，YAW为0，试图旋转芯片的值也将发生变化。 也就是说，放置0不太正确。 毕竟9250是9轴磁力仪，每次重启计算的YAW应该从重启前就偏离了正北的角度。
2 .随后复查mpl文档，发现mpl需要对磁力仪进行8字校准，mpl将磁力仪融合到Yaw中。 如果否，Yaw是6轴融合的结果。 尝试了以下8字校准，不知道是不是环境中磁场干扰的关系，特别难校准，校准后融合磁力仪，得到了理想的Yaw。 但是，该校准值似乎会被记住，并在重新启动时传输到mpl以继续使用。 我没有实现。 因为需要产品，所以想找一个校准的简单方法，这样就不能使用mpl库了。
3 .开始了漫长的寻找库的过程。 主要是找可以融合磁力仪的计算方法，找了尺寸论坛。 基本上是copy的mpl库。 特别是某莫，虽然付了几百元，但总之没有翻成有价值的东西。 听说后来改版了，钱也化为泡影，这都是后来的事了。
4 .在git上找到了救命稻草。
33559 github.com/Kris winer/MPU 9250
移植这个例行程序的，主要是免费的，开源是伟大的。
例行程序比较简洁，首先进行校准、陀螺仪和重力。 磁力仪的校正没有仔细看，所以在这里改变了自己的校正方式。
我的磁力仪校准思路是在校准时进行三个轴面的采样，每个轴面校准两个磁力仪的轴向。 例如在水平面上采集x、y； 每个平面分为4个象限(要求高的情况下可以分为8个)，判断每个象限采集了足够的点，判断采集完成。 收集流程记录点的最大值和最小值后，将找到中心点。 中心点的值为磁力计的校正值。
关于象限的判断，例如在水平面采样中，不使用z。 计算方法：判断Atan2(x，y )/)2*ACOS(-1 ) ) 360方位角转速，再判断象限。 校对这些值后，可以创建结构并编写flash。 我下次也会用那个。
最后
虽然例行程序中似乎存在错误，但选择坐标系时磁强计的坐标系与其他6个轴不一致，也与右手定理不一致。
将磁力计的z轴颠倒过来，不用例行程序。 的Yaw比较稳定，方向与手机磁力仪基本相同。
使用的坐标系：
原例行磁力仪为mag[1]mag[0]mag[2]。
该库还很稳定，Yaw在小范围内漂移，漂到一定范围后自己修正。 虽然比较公式的mpl计算值确实存在风险，但对本公司产品的Yaw要求并不高，区分东西南北还是有余地的。
在git评论区看到了同样的疑问，但作者还没有回复。 可能是臭虫。
结束